名片曝光使用說(shuō)明

步驟1:創(chuàng)建名片

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步驟2:投放名片

創(chuàng)建名片成功后,將投放名片至該產(chǎn)品“同類優(yōu)質(zhì)商家”欄目下,即開(kāi)啟名片曝光服務(wù),服務(wù)費(fèi)用為:1虎幣/天。(虎幣充值比率:1虎幣=1.00人民幣)

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無(wú)損檢驗(yàn)的定義

是指在不損壞試件的前提下,以物理或化學(xué)的方法為手段,借助先進(jìn)的技術(shù)和設(shè)備,對(duì)試件的內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu),性質(zhì),狀態(tài)進(jìn)行檢查和測(cè)試的方法。

無(wú)損檢驗(yàn)的目的

應(yīng)用無(wú)損檢驗(yàn)技術(shù)可以達(dá)到以下幾個(gè)目的:[span]

1、產(chǎn)品質(zhì)量

2、保障使用安全

3、改進(jìn)制造工藝和降低生產(chǎn)成本

無(wú)損檢驗(yàn)的發(fā)展

無(wú)損檢驗(yàn)技術(shù)的發(fā)展經(jīng)歷了三個(gè)階段,

即:無(wú)損探傷、無(wú)損檢測(cè)和無(wú)損評(píng)價(jià),其中無(wú)損探傷是早期階段的名稱,其含義是探測(cè)和發(fā)現(xiàn)缺陷;無(wú)損檢測(cè)是當(dāng)前階段的名稱,其內(nèi)涵不僅僅是探測(cè)缺陷,還包括探測(cè)試件的一些其他信息,例如結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài)等;而無(wú)損評(píng)價(jià)是即將進(jìn)入或正在進(jìn)入的新的階段,它不僅要求發(fā)現(xiàn)缺陷,探測(cè)試件的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、狀態(tài),還有獲取更全面、更準(zhǔn)確的,綜合的信息,例如有關(guān)缺陷的形狀、尺寸、位置、取向、內(nèi)含物、缺陷部位的組織、殘余應(yīng)力等的信息,它要結(jié)合成像技術(shù)、自動(dòng)化技術(shù)、計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)分析和處理等技術(shù),與材料力學(xué)等領(lǐng)域的知識(shí),對(duì)試件或產(chǎn)品的質(zhì)量和性能給出全面、準(zhǔn)確的評(píng)價(jià)

無(wú)損檢驗(yàn)的分類

無(wú)損檢驗(yàn)通常包括五大類常規(guī)方法:超聲波檢驗(yàn)、射線檢驗(yàn)、磁粉檢驗(yàn)、滲透檢驗(yàn)、渦流檢驗(yàn)。

超聲波檢驗(yàn):超聲波在被檢材料中傳播時(shí),根據(jù)材料的缺陷所顯示的聲學(xué)性質(zhì)對(duì)超聲波傳播的影響來(lái)探測(cè)其缺陷的方法。通常用超聲波檢驗(yàn)內(nèi)部缺陷和表面缺陷。

X射線檢驗(yàn):利用X射線等射線對(duì)金屬內(nèi)部缺陷進(jìn)行的無(wú)損檢驗(yàn)方法。

磁粉檢驗(yàn):利用漏磁和合適的檢驗(yàn)介質(zhì)發(fā)現(xiàn)試件表面和近表面的不連續(xù)性的無(wú)損檢驗(yàn)方法。

滲透檢驗(yàn):通過(guò)施加滲透劑,用洗凈劑除去多余的部分,然后再施加顯像劑以得到零件上開(kāi)口于表面的缺陷顯示。

渦流檢驗(yàn):利用在試件中的渦流,分析試件中質(zhì)量狀況的無(wú)損檢測(cè)方法。

超聲波檢驗(yàn)和射線檢驗(yàn)是應(yīng)用廣泛的檢測(cè)方法,只要應(yīng)用于內(nèi)部缺陷檢驗(yàn),對(duì)于表面檢驗(yàn),主要應(yīng)用磁粉檢驗(yàn),只要是鐵磁性材料就要優(yōu)選磁粉檢驗(yàn)。

工業(yè)上超聲波檢驗(yàn)以金屬為主,也可以用于其它檢驗(yàn)對(duì)象;射線檢驗(yàn)的對(duì)象也很廣泛,以金屬為主;磁粉檢驗(yàn)只能適用于鐵磁性材料;滲透檢驗(yàn)既可以用于金屬,也可以用于非金屬材料;渦流檢驗(yàn)只能應(yīng)用于導(dǎo)電材料。

各種檢驗(yàn)方法原理簡(jiǎn)介

在不損傷被測(cè)材料的情況下,檢查材料的內(nèi)在或表面缺陷,或測(cè)定材料的某些物理量、性能、組織狀態(tài)等的檢測(cè)技術(shù)。廣泛用于金屬材料、非金屬材料、復(fù)合材料及其制品以及一些電子元器件的檢測(cè)。常用的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)有:

①射線探傷。

利用X射線或γ射線在穿透被檢物各部分時(shí)強(qiáng)度衰減的不同,檢測(cè)被檢物的缺陷。

若將受到不同程度吸收的射線投射到X射線膠片上,經(jīng)顯影后可得到顯示物體厚度變化和內(nèi)部缺陷情況的照片。如用熒光屏代替膠片,可直接觀察被檢物體的內(nèi)部情況。

②超聲檢測(cè)。

利用物體自身或缺陷的聲學(xué)特性對(duì)超聲波傳播的影響,來(lái)檢測(cè)物體的缺陷或某些物理特性。在超聲檢測(cè)中常用的超聲頻率為0.5~5兆赫(MHz)。常用的超聲檢測(cè)是脈沖反射式探傷。

③磁粉探傷。

通過(guò)磁粉在物體缺陷附近漏磁場(chǎng)中的堆積來(lái)檢測(cè)物體表面或近表面處的缺陷,被檢測(cè)物體必須具有鐵磁性。

④滲透探傷。

利用某些液體對(duì)狹窄縫隙的滲透性來(lái)探測(cè)表面缺陷。常用的滲透液為含有有色染料或熒光的液體。

⑤渦流檢測(cè)

由于渦流的大小隨工件內(nèi)有沒(méi)有缺陷而不同,所以線圈電流變化的大小能反映有無(wú)缺陷。

此外,中子射線照相法、激光全息照相法、超聲全息照相法、紅外檢測(cè)、微波檢測(cè)等無(wú)損檢測(cè)新技術(shù)也得到了發(fā)展和應(yīng)用。

產(chǎn)品推薦
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