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X-MET5100 型手持式X射線熒光光譜儀用于合金成份快速分析和合號鑒定。
X-MET5100采用45kV Rh靶X射線管和高計數率硅漂移(SDD)探測器。
快速、準確的對各種樣品進行分析：大樣品、小樣品、顆粒狀樣品、金屬碎削、線材、棒材、焊縫、管道、容器、等等。儀器軟件擁有對樣品形狀和測定距離自動校正功能。
分析所有金屬合金材料中的合金屬元素，如Fe、Cu、Ni、Cr、Co、Ti、Sn、Sb、Pb、Zr、Au、Pt、等28種及Mg、Al、Si、S、P 5種輕元素共33種元素。
分析方法：
經驗系數法：不銹鋼，低合金鋼，工具鋼，Ni合金， Co合金，Cu合金，Ti合金，Al合金(元素分析)
模糊測量方法：FP 基本參數法（牌號識別）
合格與否判定：
默認方式為模式可檢測所有合金基體,操作簡單
主機配備鉛板防護，提高操作人員安全防護系數，
儀器前端有紅外保護功能，環保性能佳。
采用了Peltier恒溫冷卻系統，核心單元的壽命及儀器測量精度不受外界溫度的變化及長時間連續測量的影響。
裝備有完善的合號庫的“開機即測”儀器。
直接測量溫度高達400 ℃的樣品表面。
電池操作，一塊電池可連續工作6-8小時。標準配置2塊鋰電池。
功能強大的掌上電腦PDA，高亮度真彩觸摸屏；基于Windows移動軟件，操作簡便。
多種操作語言自由切換，包括簡體中文和繁體中文。
隨機提供控樣可隨時確認儀器的狀態。
多種方式數據傳輸：SD卡、USB線、藍牙、WiFi等。隨主機提供2個SD卡。
分析操作自動定時功能。
獲得CE和cCSAus質量認證。
獲得IP54 (NEMA 3) 防水防塵認證。
使用環境溫度：-10OC to 50OC，PDA防雨保護罩。
重量：1.8 kg，包含電池和PDA重量。
整機1年保修。
