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OMT-3R半導體檢查顯微鏡是針對半導體工業、硅片制造業、電子信息產業、冶金工業需求而開發的，作為金相顯微鏡用戶在使用時能夠體驗其性能，可廣泛應用于半導體、FPD、電路封裝的檢測。OMT-3R半導體檢查顯微鏡采用了反射和透射兩種照明形式，在反射光照明下可進行明暗場觀察和DIC觀察、偏光觀察。在透射光下作明場觀察。穩定、高品質的光學系統使成像更清晰，襯度更好。符合人機工程學要求的設計，使您在工作中感到舒適和放松。
OMT-3R半導體檢查顯微鏡特點說明
1． 采用了UIS高分辨率、長工作距離無限光路校正系統的物鏡成像技術。
2． 拓展了物鏡的復用技術，無限遠物鏡與所有觀察法相兼容包括明暗視野法、偏光法，DIC并在
每一觀察法中均提供高清晰的圖像質量。
3． 采用非球面Kohler照明，增加觀察亮度。
4． WF10×（Φ25）超大視野目鏡，長工作距離明暗場金相物鏡。
5． 可插DIC微分干涉裝置的轉換器。
