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光譜測金儀（EXF6900黃金，鉑金度檢測儀）增強型
技術指標：
分析范圍：10%～99.99%
測量時間：自適應 30～50秒
測量精度：±0.1%
測試環境：常溫常態
可分析元素：金(Au)，銀(Ag)，鉑(Pt)，鈀(Pd), 銅(Cu)，銠(Rh)，釕(Ru)，鋅(Zn)，鎳(Ni)，鎘(Cd)，
X射線源：X射線光管（風冷無輻射）
測量點尺寸：1～2mm
電壓：100～127或200～240V，50/60 Hz
尺寸：500*500*350 mm（較大處）
重量：35kg
操作系統：Windows2000/XP
鍍層測量：
鍍層厚度范圍<30μm
較大測量層數：5層
測量精度：0.03μm
儀器配置：
X光管
正比計數探測器
高壓電源
放大電路
液晶顯示屏幕
攝像定位系統
產品特點：
1）儀器性價比高
承諾，本公司各款測金儀價格，低于市場上任何一款同類產品的價格。本產品采用先進技術成果，提高了性能，節省了成本。
2）測量元素全面，涵蓋貴金屬行業補口數據庫
能夠測量：金Au（包括K金），鉑金Pt，白銀Ag，鈀金Pd，銠Rh，銅Cu，鋅Zn，鎳Ni，鎢W等金屬元素。XRF軟件針對首飾工廠，解決工人回金內摻鎢粉問題。
3）快速定性定量判斷
1～3秒可以對首飾做定性判斷，30秒檢測出結果。較高度可以達到0.1%，風冷散熱循環系統，穩定，重現指標高。
4）將先進的攝像定位技術引入珠寶檢測領域
該攝像定位系統除讓首飾檢測更加直觀、X熒光更集中于目標位置外，還可以將首飾被檢測到的位置的圖片信息，連同計算報告一起打印出來。
5）售后服務遵循儀器儀表規定
產品實行儀器儀表“三包”,一年保修,三月包換，終生維護,終生免費軟件升級。
