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技術指標：
型號： | EDX 1800 B X熒光光譜儀 |
測試對象： | 粉末、固體、液體 |
元素分析范圍： | 硫（S）－鈾（U） |
同時多可測元素： | 75種 |
含量分析范圍： | 1ppm～99.99% |
工作穩定性： | 總熒光強度為0.1％ |
測試時間： | 60～200秒 |
檢測器分辨率： | 160±5eV |
多道分析器： | 2048道 |
X射線光管： | 功率50W，靶材可選Ag、Rh、W、Mo |
高壓電源： | 電壓范圍0~50KV，穩定度每小時小于0.05% |
外型尺寸： | 550mm*416mm*333mm |
測量倉： | 460mm*298mm*98mm |
重量： | 45Kg |
檢出限： | Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm |
鍍層技術參數： | |
可測鍍層數： | 多可達5層 |
鍍層種類： | 單金屬鍍層、合金鍍層 |
鍍層識別精度： | 分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm。 |
厚度測試范圍： | 輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um |
計數率： | 1300-8000cps |
