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EN-2020A半導體器件動態參數測試系統
系統概述
IGBT是廣泛應用于現代中、大功率變換器中的主流半導體開關器件，其開關特性決定裝置的開關損耗、功率密度、器件應力以及電磁兼容性，直接影響變換器的性能。因此準確測量功率開關元件的開關性能具有極其重要的實際意義。
EN-2020A半導體器件動態參數測試系統，該系統是針對IGBT器件的開關性特性及IGBT內部續流二極管的反向恢復特性而專門設計的一套全自動測試系統，適用于電流不超過1500A和集電極電壓不超過3500V的IGBT器件開關時間測試以及正向電流不超過2000A的二極管反向恢復特性的測試。
基礎規格
規 格：1800×800×800（mm）
質 量：155Kg
環境溫度：15～40℃
相對濕度：小于80%
大氣壓力：86Kpa～ 106Kpa
電網電壓：AC220V±10%無嚴重諧波
電網頻率：50Hz±1Hz
參數/條件
IGBT開通特性測試 IGBT關斷特性測試 測試氣動夾具
測試參數 開通延遲 tdon 10-1000ns±5%±10ns
Tj=25℃和125℃ 關斷時間tdoff 10-1000ns±5%±10ns
Tj=25℃和125℃ 壓力：
5000PA的品牌空壓機供氣。
控溫范圍：
25℃-200℃
控溫精度：
±1.0℃±1%
器件接觸：
20個探針的接觸矩陣
上升時間
tr 10-1000ns±5%±10ns
Tj=25℃和125℃ 下降時間tf 10-1000ns±5%±10ns
Tj=25℃和125℃
開通能量
Eon 10-1000ns±5%±10ns
Tj=25℃和125℃ 關斷能量Eoff 10-1000ns±5%±10ns
Tj=25℃和125℃
測試條件 集電極電壓Vce 50-3500V±5%
根據用戶要求定制 集電極電壓Vce 50-3500V±5%
根據用戶要求定制
集電極電流Ice 50-1500V±5%
根據用戶要求定制 集電極電流Ice 50-1500V±5%
根據用戶要求定制
負載L 20-1000uH L負載 20-1000uH
柵極電壓Vge ±15V±3%±0.2V
短路測試Sct 一次短路 / 脈寬10uS / 短路電流10KA
二極管反向恢復測試Drr 反向恢復電流 / 反向時間 / 反向di / dt
