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ST-SP2000系列
半導體分立器件測試篩選系統
可測試 19大類27分類 的大中小功率分立器件及模塊的 靜態直流參數
（測試范圍包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件）
主極2000V / 50~1250A，分辨率較高至1mV / 10pA
支持曲線掃描圖示功能
?產品應用
應用領域
院所、高校、半導體器件生產廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導體器件應用產業鏈 ……
主要用途
? 測試分析（功率器件研發設計階段的初始測試）
? 失效分析（對失效器件進行測試，查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案 ）
? 選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數據比較一致的器件進行分類配對）
? 來料檢驗（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）
? 產線自動化測試（可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備，實現規模化、自動化測試）
?產品簡述
