牛津儀器CMI900 無損電鍍膜厚測量儀，測量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測量，快速 無損，業(yè)內(nèi)廣受好評(píng)，客戶應(yīng)用廣泛在 五金 連接器 PCB LED支架等行業(yè)以形成行業(yè)測量的標(biāo)準(zhǔn)。歡迎廣大五金連接器客戶聯(lián)系 測量量樣品 洽談往來 本公司經(jīng)營多年工程師經(jīng)驗(yàn)豐富，商業(yè)合作個(gè)方式靈活。同時(shí)經(jīng)營原裝OXFORD X光射線管 ETP探頭等配件，以及ROHS檢測設(shè)備國產(chǎn)ROHS分析檢測儀，臺(tái)式元素分析儀。 儀器介紹 CMI 900 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測量儀器，可應(yīng)用于材料的涂/鍍層 厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析.基于WindowsXP 中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包，實(shí)現(xiàn)了對CMI900主機(jī)的全面自動(dòng)化控制， PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業(yè) 技術(shù)參數(shù)： CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術(shù)上一直以來都于全世界的測厚行業(yè) A CMI 900 能夠測量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層 （銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測定多5層、15 種元素。 B ：度于世界，到0。025um (相對與標(biāo)準(zhǔn)片) C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式，以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ； 如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。 D ：統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、較大值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。 CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品； E ：可測量任一測量點(diǎn)，小可達(dá)0.025 x 0.051毫米 牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀